高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)；特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

    高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

    設(shè)備型號：HL-80

    溫度范圍：-70℃～+100℃

    溫度偏差：≤±2.0℃

    溫度波動度：≤±0.5℃

    升溫時間：2~3℃/min（設(shè)備空載時）

    降溫時間：0.7~1℃/min（設(shè)備空載時）

    工作室尺寸（深×寬×高）：400*400*500mm

    外型尺寸（深×寬×高）：950*950*1360mm

    高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn):

    低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB10589-2006

    高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB10592-2006

    高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB11158-2006

    低溫試驗(yàn)方法A:GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)

    高溫試驗(yàn)方法B:GB2423.2-2001(IEC68-2-2)

    高低溫交變試驗(yàn)（僅濕熱型）:GB/T2423.4-1993

    高溫試驗(yàn)方法:GJBl50.3-86(MIL-STD-810D)

    低溫試驗(yàn)方法:GJBl50.4-86(MIL-STD-810D)

    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備:GB/T5170.2-1996

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